Toutes les méthodes de
caractérisation sont basées sur un même principe qui consiste à analyser l’interaction entre une sonde et
l’échantillon étudié. La sonde peut être un faisceau de particules, un
rayonnement électromagnétique, un champ électrique ou magnétique, un palpeur
mécanique, etc. La réponse de l’échantillon à cette
excitation peut être externe avec émission de rayonnements ou de particules ou circulation d’un
courant, mais elle peut
aussi avoir lieu de manière interne comme le piégeage d’électrons dans les semiconducteurs ou l’absorption de la lumière par certains
matériaux etc.
- Enseignant: Abdelhakim Mahdjoub